Mémoires de Magister "Physique"

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Parcourir la collection Mémoires de Magister "Physique" par Sujet "AFM"

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    Caractérisation par Microscope à Force Atomique des nanoagrégats d’argent métallique formés sur substrat de silicium et sur des couches minces d’alumine
    (Université oran1 Ahmed Ben Bella, 2006) TOUAA Zaza
    La distribution de l’argent en surface est contrôlée essentiellement par microscope à force atomique. Afin de comprendre la croissance cristalline, il est nécessaire de rappeler les différentes techniques de formation des couches minces et de présenter les différents modes de croissance. Ces notions ont fait l’objet du premier chapitre. Les méthodes d’analyse et de caractérisation qui sont en général des techniques spectroscopiques, les notions de base des microscopes à champ proche (STM, AFM) sont développées dans le deuxième chapitre. Nous avons réservé le troisième chapitre à la préparation, à l’analyse par AFM des échantillons (Ag/Si et Ag/Al2O3/Si) et aussi au calcul de la dimension des nanoagrégats d’Ag par la méthode des fractales.
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    Etude des propriétés structurales et magnétiques des couches ferromagnétiques par microscopie à champ proche et effet Kerr magnéto-optique
    (Université oran1 Ahmed Ben Bella, 2011) GUENDOUZ Atika
    Dans ce travail de thèse de magister, les propriétés structurales et magnétiques des couches ferromagnétiques ont été étudiées par microscopie à champ proche et effet Kerr magnéto-optique .Les échantillons analysés sont les couches de fer épitaxies sur le silicium (111) à différents angles de dépôt ( entre 10° et 70°) et à différentes couches de fer variant de 40 MC à 160MC. Les différents résultats obtenus et les discussions et interprétations concernent les propriétés structurales, morphologiques et magnétiques des différents systèmes étudiés. L'exposition d'analyse des images de fer épitaxies sur silicium (111) par microscopie à effet tunnel que l'allongement des ilots dans la direction perpendiculaire au flux d'incident ont présente à chaque épaisseur de couche de fer tant que les angles d'incident est plus haut que 30°.Les propriétés magnétiques ont été étudiées quant à elles par MOKE , à l'aide d'une méthode originale basée sur la mesure de susceptibilité inverse et du couple que nous avons dénommée TIIBST . Cette méthode permet d'accéder systématiquement aux différentes contributions à l'énergie d'anisotropie et donc par cet intermédiaire, aux constantes d'anisotropie. Cette étude à aussi parmi de montrer la corrélation existant entre structure et magnétisme dans les couches minces de Fe déposées sur Si (111). En effet, des observations par AFM ont permis de montrer que des dépôts, affectés en incidence oblique par rapport au substrat, entrainement la formation d'ondulations perpendiculaires à la direction d'évaporations. La comparaison entre la morphologie ainsi déterminer et la position des axes de facile se difficile aimantation, indique que l'anisotropie unixiale dipolaire rencontrée sur ces couches minces est essentiellement due à ces ondulations.