Caractérisation par Microscope à Force Atomique des nanoagrégats d’argent métallique formés sur substrat de silicium et sur des couches minces d’alumine
Caractérisation par Microscope à Force Atomique des nanoagrégats d’argent métallique formés sur substrat de silicium et sur des couches minces d’alumine
Fichiers
Date
2006
Auteurs
TOUAA Zaza
Nom de la revue
ISSN de la revue
Titre du volume
Éditeur
Université oran1 Ahmed Ben Bella
Résumé
La distribution de l’argent en surface est contrôlée essentiellement par microscope à force atomique. Afin de comprendre la croissance cristalline, il est nécessaire de rappeler les différentes techniques de formation des couches minces et de présenter les différents modes de croissance. Ces notions ont fait l’objet du premier chapitre. Les méthodes d’analyse et de caractérisation qui sont en général des techniques spectroscopiques, les notions de base des microscopes à champ proche (STM, AFM) sont développées dans le deuxième chapitre. Nous avons réservé le troisième chapitre à la préparation, à l’analyse par AFM des échantillons (Ag/Si et Ag/Al2O3/Si) et aussi au calcul de la dimension des nanoagrégats d’Ag par la méthode des fractales.
Description
Mots-clés
Nanoagrégats, Silicium, Alumine, Spectroscopie, STM, AFM, Ag/Si, DRX, Méthode De Fractale