Caractérisation par Microscope à Force Atomique des nanoagrégats d’argent métallique formés sur substrat de silicium et sur des couches minces d’alumine

Notice brève
dc.contributor.authorTOUAA Zaza
dc.date.accessioned2022-11-23T15:57:34Z
dc.date.available2022-11-23T15:57:34Z
dc.date.issued2006
dc.description.abstractLa distribution de l’argent en surface est contrôlée essentiellement par microscope à force atomique. Afin de comprendre la croissance cristalline, il est nécessaire de rappeler les différentes techniques de formation des couches minces et de présenter les différents modes de croissance. Ces notions ont fait l’objet du premier chapitre. Les méthodes d’analyse et de caractérisation qui sont en général des techniques spectroscopiques, les notions de base des microscopes à champ proche (STM, AFM) sont développées dans le deuxième chapitre. Nous avons réservé le troisième chapitre à la préparation, à l’analyse par AFM des échantillons (Ag/Si et Ag/Al2O3/Si) et aussi au calcul de la dimension des nanoagrégats d’Ag par la méthode des fractales.
dc.formatpdf
dc.identifier.urihttps://dspace.univ-oran1.dz/handle/123456789/1030
dc.language.isofr
dc.publisherUniversité oran1 Ahmed Ben Bella
dc.subjectNanoagrégats
dc.subjectSilicium
dc.subjectAlumine
dc.subjectSpectroscopie
dc.subjectSTM
dc.subjectAFM
dc.subjectAg/Si
dc.subjectDRX
dc.subjectMéthode De Fractale
dc.titleCaractérisation par Microscope à Force Atomique des nanoagrégats d’argent métallique formés sur substrat de silicium et sur des couches minces d’alumine
grade.ExaminateurS. HAMZAOUI, Professeur, USTO
grade.ExaminateurM. BOUSLAMA, Professeur, ENSET d’Oran
grade.OptionSpectroscopie des matériaux solides
grade.PrésidentN. ZEKRI, Professeur, USTO
grade.RapporteurM. GHAMNIA, Professeur, Université d’Oran
la.SpécialitéPhysique
la.coteTH2295
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