Caractérisation des Couches Minces par Microscopie En Champ Proche et Spectroscopie Electronique : Application aux Oxydes Formés sur les inconels

Notice brève
dc.contributor.authorMECHEHOUD Fayçal
dc.date.accessioned2022-11-28T19:44:00Z
dc.date.available2022-11-28T19:44:00Z
dc.date.issued2010
dc.description.abstractCe travail, consiste à la caractérisation des couches minces par microscopie en champ proche et spectroscopie électronique, application aux oxydes formés sur les alliages a base de nickel du type inconels 600 et 690. La première partie consiste a l'étude théorique des différentes technique de microscopie en champ proche dont, la microscopie a force atomique (AFM Atomic Force Microscopy), la microscopie a force de kelvin(KFM Kelvin Force Microscopy) et la microscopie à effet tunnel (STM Scanning Tunneling Microscopy).Dans la deuxième partie, on utilisant la microscopie à force atomique on étudie la topographie de surface des échantillons et la taille des grains. Par microscopie a force de kelvin, on a mesuré le potentiel de surface qui nous a permis d'étudier l'efficacité en terme de protection de la couche d'oxyde contre la corrosion et enfin, la microscopie a effet tunnel dans le mode spectroscopique(STS Scanning Tunneling Specrtoscopy) nous a permis de déterminé la largueur de la bande interdite par le tracé des courbes I-V ainsi que la conductance normalisé.
dc.formatpdf
dc.identifier.urihttps://dspace.univ-oran1.dz/handle/123456789/1474
dc.language.isofr
dc.publisherUniversité oran1 Ahmed Ben Bella
dc.subjectMicroscopie en champ proche
dc.subjectMicroscopie a force atomique AFM
dc.subjectMicroscopie a force de kelvin KFM
dc.subjectMicroscopie à effet tunnel STM
dc.subjectSTS
dc.subjectInconels
dc.titleCaractérisation des Couches Minces par Microscopie En Champ Proche et Spectroscopie Electronique : Application aux Oxydes Formés sur les inconels
grade.Co-rapporteurJean-Luc UBENDORFF, Maitre de conférences, Université Mulhouse Haute-Alsace, France
grade.ExaminateurMaamar BELHADJI, Professeur, Université d'Oran
grade.ExaminateurSaad HAMZAOUI, Professeur, Université Mohamed Boudiaf Oran
grade.OptionPhysiques science des matériaux
grade.PrésidentAbdelbacet KHELIL, Professeur, Université d'Oran
grade.RapporteurNour Eddine HAKIKI, Professeur, Université d'Oran
la.SpécialitéPhysique
la.coteTH3249
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Mémoires de Magister "Physique"