Caractérisation des Couches Minces par Microscopie En Champ Proche et Spectroscopie Electronique : Application aux Oxydes Formés sur les inconels
Caractérisation des Couches Minces par Microscopie En Champ Proche et Spectroscopie Electronique : Application aux Oxydes Formés sur les inconels
Fichiers
Date
2010
Auteurs
MECHEHOUD Fayçal
Nom de la revue
ISSN de la revue
Titre du volume
Éditeur
Université oran1 Ahmed Ben Bella
Résumé
Ce travail, consiste à la caractérisation des couches minces par microscopie en champ proche et spectroscopie électronique, application aux oxydes formés sur les alliages a base de nickel du type inconels 600 et 690. La première partie consiste a l'étude théorique des différentes technique de microscopie en champ proche dont, la microscopie a force atomique (AFM Atomic Force Microscopy), la microscopie a force de kelvin(KFM Kelvin Force Microscopy) et la microscopie à effet tunnel (STM Scanning Tunneling Microscopy).Dans la deuxième partie, on utilisant la microscopie à force atomique on étudie la topographie de surface des échantillons et la taille des grains. Par microscopie a force de kelvin, on a mesuré le potentiel de surface qui nous a permis d'étudier l'efficacité en terme de protection de la couche d'oxyde contre la corrosion et enfin, la microscopie a effet tunnel dans le mode spectroscopique(STS Scanning Tunneling Specrtoscopy) nous a permis de déterminé la largueur de la bande interdite par le tracé des courbes I-V ainsi que la conductance normalisé.
Description
Mots-clés
Microscopie en champ proche, Microscopie a force atomique AFM, Microscopie a force de kelvin KFM, Microscopie à effet tunnel STM, STS, Inconels